Надежность промышленных роботов
Чабанный Александр Анатольевич, 2015-01-25
Чабанный Александр Анатольевич, 2015-01-25
Применение однофакторного дисперсионного анализа к оценке надежности тестовых материалов единого государственного экзамена
Буров А. В., 2014-12-09
Буров А. В., 2014-12-09
Насколько качественными являются тесты ВНО
Бахрушин В.Е., 2013-09-25
Бахрушин В.Е., 2013-09-25
Стабильность как характеристика состояния экономических объектов
Пятков Антон Александрович, Пятков А.А. Стабильность как характеристика состояния экономических объектов // Вестник университета (Государственный университет управления) – М.: ГУУ, №9, 2010. -....
Пятков Антон Александрович, Пятков А.А. Стабильность как характеристика состояния экономических объектов // Вестник университета (Государственный университет управления) – М.: ГУУ, №9, 2010. -....
МАТЕМАТИЧЕСКАЯ ФОРМАЛИЗАЦИЯ ЗАДАЧИ ОЦЕНИВАНИЯ РЕСУРСНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ОБОРУДОВАНИЯ АЭС
К.Н. Маловик, 2012-08-10
К.Н. Маловик, 2012-08-10
Мониторинг состояния экземпляров сервисов и метод обеспечения требуемого уровня надежности
Копытова Елена Александровна, Саид Халава Фауаз, Копытова Елена Александровна, Саид Халава Фауаз Мониторинг состояния экземпляров сервисов и метод обеспечения требуемого уровня надежности // Проблеми....
Копытова Елена Александровна, Саид Халава Фауаз, Копытова Елена Александровна, Саид Халава Фауаз Мониторинг состояния экземпляров сервисов и метод обеспечения требуемого уровня надежности // Проблеми....
Об автоматизированной спецификации, верификации и синтезе управляющих программ реального времени на базе логического и алгебраического подходов
Тюгашев А.А., Сб.докладов международного симпозиума "Надежность и качество". 2006. Т. 1. С. 143-146.ISSN 2220-6418.
Тюгашев А.А., Сб.докладов международного симпозиума "Надежность и качество". 2006. Т. 1. С. 143-146.ISSN 2220-6418.
Метод исследования акцентуаций свойств темперамента.
Бердников Д.В., Теория и практика судебной экспертизы. – 2008. - №4 (12), - С. 168-175..
Бердников Д.В., Теория и практика судебной экспертизы. – 2008. - №4 (12), - С. 168-175..
Избыточность в полупроводниковых микросхемах памяти
Урбанович П.П., Алексеев В.Ф., Верниковский Е.А., Минск: Навука і тэхніка, 1995. − 262 с. .
Урбанович П.П., Алексеев В.Ф., Верниковский Е.А., Минск: Навука і тэхніка, 1995. − 262 с. .