Библиотека » Физика
Измерение коэффициента Холла и электропроводности полупроводников зондовым методом
Поляков Н.Н., Заворотний А.А., Филиппов В.В., Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - М.: Тест-зл. - Т. 80. - №6. - 2014. - С. 41-44.
Пироэлектрические свойства и дефекты структуры слоистого кристалла TlInS2, легированного лантаном
M.-H.Yu Seyidov, А.П. Одринский, R.A. Suleymanov, E. Acar, Т.Г. Мамедов, В.Б. Алиева, 2014-06-12
Экситонные спектры сульфида стронция
Валентин Викторович Соболев, Валентин Валентинович Соболев, Дмитрий Александрович Мерзляков, 2013-09-00
Fiber optic gyroscope based on the registration of the spatial interference pattern
Sergiy Pavlov, Stanislav Tuzhanskyi, Andrii Sakhno, 2014-03-01
Волоконно-оптический гироскоп на основе встречных светловых волн
Сахно А.М. Костюченко Д.С. Тужанский С.Е., 2013-10-04
Fiber Optic Gyroscope Based on the Registration of the Spatial Interference Pattern
Sergiy Pavlov, Stanislav Tuzhanskyi, Andrew Sachno, 2014-03-01
Оптоелектронні матриці в складі класифікатора
Кирияченко .А.О. , Мартинюк Т.Б., Повидало М.В., 2014-05-21
Фотоэлектрическая активность структурных дефектов монокристалла сегнетоэлектрика-полупроводника TlInS2:La.
А.П. Одринский, Т.Г. Мамедов, M.-H.Yu Seyidov, 2014-05-08
