Восточно-Европейский журнал передовых технологий » Архив номеров » Volume 1, issue 7 » Публикация
Опубликовано
2012-05-19
Опубликовано на SciPeople2012-08-21 10:37:06
ЖурналСхідно-Європейський журнал передових технологій
Моделювання субмікронної та нанотехнологій на основі тестових структур
Степан Петрович Новосядлий, В. М. Вивчарук, С. М. Вертепний Моделювання субмікронної та нанотехнологій на основі тестових структур // Східно-Європейський журнал передових технологій, Vol. 1, Issue 7, 2012, pp. 26-38
Аннотация
Розглянуто структуру тесто-вого контролю (ТК) технологічного процесу формування структур великих інтегральних схем, сформовані задачі ТК, проведена класифікація тестових структур, наведені приклади тестових кристалів та способи їх застосування
http://212.111.212.230/index.php/1729-3774/article/view/3182
Показать статистику Комментарии
Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален
