Андрей Одринский » Публикация
Поделиться публикацией:
Опубликовано
2011-07-16
Опубликовано на SciPeople2014-02-16 21:40:40
ЖурналФизика и техника полупроводников
Нестационарная спектроскопия alpha-центров Рывкина
Аннотация
Рассмотрены особенности DLTS-регистрации дефектов, обладающих склонностью к перезахвату термически возбуждаемых носителей вследствие большой величины эффективного сечения захвата. Обнаружены признаки, позволяющие идентифицировать реализацию данной модели.
http://journals.ioffe.ru/ftp/2011/07/p886-889.pdf
Показать статистику 
