Андрей Одринский » Публикация
Поделиться публикацией:
Опубликовано
2004-03-16
Опубликовано на SciPeople2014-02-16 22:11:18
ЖурналФизика и техника полупроводников
Критический анализ исследования ГУ в высокоомных монокристаллах CdS методом PICTS
Аннотация
Обсуждается исследование высокоомных монокристаллов CdS методом фотоэлектрической нестационарной спектроскопии глубоких уровней (ФЭНСГУ). Проведено компьютерное моделирование экспериментов, позволившее сравнить результаты экспериментов, полученные методами ФЭНСГУ и термостимулированной проводимости. Сравниваются экспериментальные возможности этих методов.
http://journals.ioffe.ru/ftp/2004/03/p310-315.pdf
Показать статистику 
