Профиль » Публикация

Поделиться публикацией:
Опубликовать в блог:
Опубликовано 1997-00-00 ОрганизацияФизико-технический институт им. А.Ф.Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия ЖурналЖурнал Технической Физики


Дифракционные исследования лучевой прочности интерференционных структур на основе диоксида ванадия
Шадрин Е.И., Чудновский Ф.А., Цибадзе К.Ш., Хахаев И.А.
Шадрин Е.И., Чудновский Ф.А., Цибадзе К.Ш., Хахаев И.А. Дифракционные исследования лучевой прочности интерференционных структур на основе диоксида ванадия // ЖТФ, 1997, том 67, выпуск 4, Стр. 88
Аннотация Методом записи необратимых дифракционных решеток исследовано явление оптического пробоя пленочных окисно-ванадиевых интерферометров и измерено значение их порога оптических повреждений, оказавшееся равным 76± 4 мДж/см2.
Ключевые слова публикации:
     

Комментарии

Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален