Профиль » Публикация

Поделиться публикацией:

Опубликовано 1997-00-00 ОрганизацияСаратовский филиал Института машиноведения РАН, 410028 Саратов, Россия ЖурналЖурнал Технической Физики

Диагностика двумерных фрактальных структур с использованием сканирующих когерентных пучков

Зимняков Д.А., Мишин А.А., Серов А.Н.

Зимняков Д.А., Мишин А.А., Серов А.Н. Диагностика двумерных фрактальных структур с использованием сканирующих когерентных пучков // ЖТФ, 1997, том 67, выпуск 11, Стр. 101

Аннотация Обсуждается метод исследования двумерных случайных структур типа амплитудных экранов с фрактальными свойствами с использованием сканирующих сфокусированных и широких коллимированных пучков. Рассмотрена взаимосвязь параметров структурных функций флуктуаций интенсивности, детектируемых в фиксированной точке наблюдения, со структурными характеристиками исследуемых экранов. Приводятся результаты экспериментальных исследований модельных образцов случайных амплитудных экранов с фрактальными свойствами.