Профиль » Публикация

Поделиться публикацией:
Опубликовать в блог:
Опубликовано 1999-00-00 ОрганизацияНаучно-исследовательский институт импульсной техники, 115304 Москва, Россия ЖурналЖурнал Технической Физики


Численный анализ рассеяния электростатического поля двухэлектродной камеры на проводящих поверхностях
Сафронов С.И., Тарасов Р.П.
Сафронов С.И., Тарасов Р.П. Численный анализ рассеяния электростатического поля двухэлектродной камеры на проводящих поверхностях // ЖТФ, 1999, том 69, выпуск 6, Стр. 1
Аннотация Проведен численный анализ электростатического поля TEM-камеры и рассеяния исходного поля TEM-камеры идеально проводящими поверхостями вращения и параллелепипедом.
Ключевые слова публикации:
   
 http://www.ioffe.rssi.ru/journals/jtf/1999/06/p1-10.pdf
Показать статистику
Похожие публикации

Комментарии

Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален