Профиль » Публикация

Аннотация Дан краткий обзор основных методических и аппаратных проблем, возникающих при измерении различных видов спектров в конфигурации сканирующего туннельного микроскопа на воздухе. Рассмотрены возможности преодоления таких проблем. Предложена методика измерения нового типа туннельных спектров (вольт-высотных UH-зависимостей), позволяющих оценивать расстояния между зондом туннельного микроскопа и исследуемым образцом. Высказаны предположения об электрохимической природе тока, протекающего в ходе СТМ измерений в конфигурации воздушного туннельного микроскопа. Приведены экспериментальные иллюстрации --- различные типы туннельных спектров для металлических, оксидных, углеродных и полимерных (в том числе гетерогенных) материалов.