Профиль » Публикация
Опубликовано
2002-00-00
ОрганизацияФизико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, 194021 Санкт-Петербург, Россия
ЖурналЖурнал Технической Физики
Формирование заданных профилей концентрации внедренных атомов и радиационных дефектов при использовании монохроматических пучков ускоренных ионов
Гусинский Г.М., Матюков А.В. Формирование заданных профилей концентрации внедренных атомов и радиационных дефектов при использовании монохроматических пучков ускоренных ионов // ЖТФ, 2002, том 72, выпуск 5, Стр. 65
Аннотация
Предложен метод формирования пучков ускоренных ионов с энергетическим спектром, отвечающим условию образования в облучаемых образцах заданного профиля внедренных атомов и радиационных дефектов. Проведен строгий математический расчет профилей пленочных поглотителей энергии, формирующих пучки легких и тяжелых ионов с необходимым энергетическим спектром из моноэнергетических ускоренных пучков.
Комментарии
Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален