Профиль » Публикация

Поделиться публикацией:
Опубликовать в блог:
Опубликовано 2003-00-00 Организация1 Институт общей физики РАН, 117942 Москва, Россия 2 Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, 119899 Москва, Россия e-mail: bvi@osc.phys.msu.ru ЖурналЖурнал Технической Физики


Численное моделирование изображений наночастиц в ближнепольной сканирующей оптической микроскопии
Белотелов В.И., Пятаков А.П., Звездин А.К., Котов В.А., Логгинов А.С.
Белотелов В.И., Пятаков А.П., Звездин А.К., Котов В.А., Логгинов А.С. Численное моделирование изображений наночастиц в ближнепольной сканирующей оптической микроскопии // ЖТФ, 2003, том 73, выпуск 1, Стр. 3
Аннотация Теоретически рассматривается наблюдение магнитных и немагнитных наночастиц в ближнепольной сканирующей микроскопии в режиме сбора фотонов. Приводится основанный на использовании метода тензорных электродинамических функций Грина теоретический подход к нахождению оптического ближнего поля при данной конфигурации наблюдения. При помощи численного моделирования получены характерные изображения наночастиц различной формы. Показано, что на топографических особенностях исследуемых объектов (края и углы частицы) вследствие граничных условий происходит изменение плоскости поляризации излучения, что осложняет наблюдение магнитной структуры наночастицы магнитооптическим методом. Вместе с тем ближнепольное исследование распределения намагниченности в однородных тонких пленках является более эффективным, поскольку в этом случае поворот плоскости поляризации в основном обусловлен магнитными особенностями образца.
Ключевые слова публикации:
   

Комментарии

Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален