Профиль » Публикация

Аннотация Рассмотрен новый подход к исследованию свойств микрорельефа конструкционных материалов, основанный на понятии фрактальных сигнатур. Данный подход был специально разработан и успешно апробирован при решении радиофизических задач обнаружения малоконтрастных целей. В основе метода заложены идеи теории фракталов, а в качестве оценочного параметра используются фрактальные сигнатуры и фрактальные размерности D, тесно связанные не только с топологией объектов, но и с процессами эволюции динамических систем. С помощью полученных экспериментальных результатов доказано существование на уровне микрорельефа обработанной поверхности фрактальных кластеров и определены их количественные характеристики.