Профиль » Публикация
Опубликовано
2006-00-00
ОрганизацияВильнюсский университет, 10222 Вильнюс, Литва e-mail: pranas.zilinskas@ff.vu.lt
ЖурналЖурнал Технической Физики
Измерение параметров диэлектрических слоев методом периодической зарядки их поверхности
Жилинскас П.Ю., Монтримас Э., Лозовски Т. Измерение параметров диэлектрических слоев методом периодической зарядки их поверхности // ЖТФ, 2006, том 76, выпуск 10, Стр. 120
Аннотация
На основе периодического дозированного осаждения заряда на поверхность диэлектрического слоя, синхронного измерения накопленного заряда и поверхностного потенциала, а также измерения поверхностного потенциала, как при произвольной разрядке, так и при разрядке под действием освещения слоя, показана возможность определения параметров и характерик исследуемого диэлектрического слоя. По накопленным во время измерения данным строится зависимость величины поверхностного потенциала слоя от величины плотности осаждаемого заряда, а также зависимости эффективной емкости, дифференциальной емкости и сопротивления утечки слоя от величины поверхностного потенциала. Показано, что по полученным характеристикам можно анализировать физические явления, происходящие в исследуемом диэлектрическом слое, определить временные параметры, т. е. время полуспада потенциала в темноте и время полуспада потенциала при освещении слоя, а также определить емкость, предельное значение поверхностного потенциала, рассчитать диэлектрическую проницаемость, сопротивление утечки и фоточувствительность исследуемого диэлектрического слоя. PACS: 77.20.-d
Комментарии
Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален