Профиль » Публикация

Поделиться публикацией:
Опубликовать в блог:
Опубликовано 2006-00-00 ОрганизацияВильнюсский университет, 10222 Вильнюс, Литва e-mail: pranas.zilinskas@ff.vu.lt ЖурналЖурнал Технической Физики


Измерение параметров диэлектрических слоев методом периодической зарядки их поверхности
Жилинскас П.Ю., Монтримас Э., Лозовски Т.
Жилинскас П.Ю., Монтримас Э., Лозовски Т. Измерение параметров диэлектрических слоев методом периодической зарядки их поверхности // ЖТФ, 2006, том 76, выпуск 10, Стр. 120
Аннотация На основе периодического дозированного осаждения заряда на поверхность диэлектрического слоя, синхронного измерения накопленного заряда и поверхностного потенциала, а также измерения поверхностного потенциала, как при произвольной разрядке, так и при разрядке под действием освещения слоя, показана возможность определения параметров и характерик исследуемого диэлектрического слоя. По накопленным во время измерения данным строится зависимость величины поверхностного потенциала слоя от величины плотности осаждаемого заряда, а также зависимости эффективной емкости, дифференциальной емкости и сопротивления утечки слоя от величины поверхностного потенциала. Показано, что по полученным характеристикам можно анализировать физические явления, происходящие в исследуемом диэлектрическом слое, определить временные параметры, т. е. время полуспада потенциала в темноте и время полуспада потенциала при освещении слоя, а также определить емкость, предельное значение поверхностного потенциала, рассчитать диэлектрическую проницаемость, сопротивление утечки и фоточувствительность исследуемого диэлектрического слоя. PACS: 77.20.-d
Ключевые слова публикации:
   

Комментарии

Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален