Профиль » Публикация

Поделиться публикацией:

Опубликовано 1997-00-00 ОрганизацияФизико-технический институт им. А.Ф.Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия *&nbsp;Department of Materials, University of Oxford, Parks Road, Oxford OX1, 3PH, UK ЖурналЖурнал "Физика Твердого Тела"

Сравнительное изучение с помощью просвечивающей электронной микроскопии трехмерной решетки из&nbsp;нанокластеров теллура, полученной различными способами в&nbsp;опаловой матрице

Богомолов В.Н., Сорокин Л.М., Курдюков Д.А., Павлова Т.М., Хатчисон Дж.

Богомолов В.Н., Сорокин Л.М., Курдюков Д.А., Павлова Т.М., Хатчисон Дж. Сравнительное изучение с помощью просвечивающей электронной микроскопии трехмерной решетки из нанокластеров теллура, полученной различными способами в опаловой матрице // ФТТ, 1997, том 39, выпуск 11, Стр. 2090

Аннотация Проведено электронно-микроскопическое изучение синтетических опалов, в регулярно расположенные пустоты которых введен теллур либо из расплава под давлением, либо из раствора. В первом случае выявлена трехмерная решетка из связанных друг с другом через мостики кластеров теллура. При переходе от одного к другому они сохраняют одну и ту же кристаллографическую ориентацию. Эти данные свидетельствуют о том, что при охлаждении объекта после введения теллура происходит его направленная кристаллизация, которая контролируется, возможно, каналами между кластерами. При втором способе введения теллура образуется неоднородная кластерная решетка: объемные кластеры вырастают не во всех пустотах. Поверхность большинства силикатных сфер покрыта тонким несплошным слоем теллура. Такая структура кластерной решетки обеспечивает нелинейную вольт-амперную характеристику объекта в целом. Продемонстрирована принципиальная возможность инженерии кластерных решеток, отличающихся структурными параметрами.