Профиль » Публикация

Поделиться публикацией:
Опубликовать в блог:
Опубликовано 2001-00-00 ОрганизацияФизико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия ЖурналЖурнал "Физика Твердого Тела"


Реактивная эпитаксия дисилицида кобальта на Si(111)
Гомоюнова М.В., Пронин И.И., Валдайцев Д.А., Фараджев Н.С.
Гомоюнова М.В., Пронин И.И., Валдайцев Д.А., Фараджев Н.С. Реактивная эпитаксия дисилицида кобальта на Si(111) // ФТТ, 2001, том 43, выпуск 3, Стр. 549
Аннотация Изучен механизм начальных стадий силицидообразования при нанесении Co в диапазоне 1-10 монослоев на нагретый кристалл Si(111) 7x 7. При получении структурных данных использовался оригинальный метод дифракции неупруго отраженных электронов средней энергии, отображающий атомное строение поверхностных слоев в реальном пространстве. Элементный состав анализируемой приповерхностной области исследовался методом электронной Оже-спектроскопии. Показано, что в условиях реактивной эпитаксии на Si(111) растет эпитаксиальная пленка CoSi2(111) B-ориентации. При этом на начальных стадиях нанесения кобальта (1-3 монослоя) реализуется островковая мода роста. Элементный состав поверхности пленки CoSi2(111) толщиной около 30 Angstrem такой же, как у объемного дисилицида кобальта, и она оканчивается триадой монослоев Si-Co-Si. Работа выполнена в рамках направления "Поверхностные атомные структуры" (проект N 5.10.99).
Ключевые слова публикации:
     

Комментарии

Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален