Профиль » Публикация

Поделиться публикацией:
Опубликовать в блог:
Опубликовано 2001-00-00 Организация*Томский государственный архитектурно-строительный университет, 634003 Томск, Россия Томский политехнический университет, 634034 Томск, Россия ЖурналЖурнал "Физика Твердого Тела"


Короткоживущие первичные радиационные дефекты в кристалле LiF
Лисицына Л.А., Гречкина Т.В., Корепанов В.И., Лисицын В.М.
Лисицына Л.А., Гречкина Т.В., Корепанов В.И., Лисицын В.М. Короткоживущие первичные радиационные дефекты в кристалле LiF // ФТТ, 2001, том 43, выпуск 9, Стр. 1613
Аннотация Методами импульсной спектрометрии с наносекундным разрешением исследованы спектрально-кинетические параметры инициированных воздействием импульса электронов (ИЭ) нестационарного поглощения и свечения кристаллов LiF. Измерения проведены в спектральной области 6 eV, в температурном диапазоне 11-150 K и временном интервале 10-8-10 s после окончания действия ИЭ. Показано, что воздействие ИЭ приводит к созданию в кристалле LiF помимо F-, Vk- и H-центров короткоживущих дефектов двух типов, различающихся спектральным положением поглощательных и излучательных переходов, временем жизни и характером температурной зависимости эффективности создания. Центры типа I имеют поглощательные переходы на 5.5 и 5.1 eV и излучательный на 5.8 eV, центры типа II --- поглощательные переходы на 5.3 и 4.75 eV и излучательный переход на 4.4 eV. Установлено, что в интервале 11-150 K изменение количественного соотношения между типами короткоживущих центров не влияет на величину квантового выхода F-центров. Предполагается, что обнаруженные центры представляют собой автолокализованные экситоны различного типа. Работа выполнена при финансовой поддержке программы "Университеты России".
Ключевые слова публикации:
       

Комментарии

Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален