Профиль » Публикация

Поделиться публикацией:
Опубликовать в блог:
Опубликовано 2003-00-00 ОрганизацияФизико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия ЖурналЖурнал "Физика Твердого Тела"


Особенности сегрегации углерода наповерхности вольфрама
Потехина Н.Д., Галль Н.Р., Рутьков Е.В., Тонтегоде А.Я.
Потехина Н.Д., Галль Н.Р., Рутьков Е.В., Тонтегоде А.Я. Особенности сегрегации углерода наповерхности вольфрама // ФТТ, 2003, том 45, выпуск 4, Стр. 742
Аннотация Выполнены новые измерения и проведен подробный анализ экспериментальных данных по зависимости равновесной степени покрытия углерода theta на поверхности вольфрама от температуры и степени предварительной науглероженности. Показано, что в случае свободного от углерода объема изменение theta при T>=q 1400 K может быть приближенно описано условием равновесия потоков углерода через границу при энергии активации перехода в объем E1=4.6 eV и энергии сегрегации Delta E=1.7 eV. Для предварительно науглероженного вольфрама со степенью науглероживания ~ 10-2 at.% зависимость theta(T) не может быть описана условиями равновесия с постоянными значениями E1 и Delta E --- эти величины зависят от степени науглероживания. E1 растет от 4.6 до 6.8 eV, a Delta E --- от 1.7 до 2.3 eV при изменении степени науглероживания от 0 до 10-2 at.%. Эти изменения интерпретируются как упрочение связей в науглероженном вольфраме с увеличением количества внедренного углерода. Работа поддержана программой МН РФ \glqq Поверхностные атомные структуры\grqq (проект N 4.6.99).
Ключевые слова публикации:
     

Комментарии

Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален