Профиль » Публикация
Опубликовано
2003-00-00
ОрганизацияФизико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия
ЖурналЖурнал "Физика Твердого Тела"
Особенности сегрегации углерода наповерхности вольфрама
Потехина Н.Д., Галль Н.Р., Рутьков Е.В., Тонтегоде А.Я. Особенности сегрегации углерода наповерхности вольфрама // ФТТ, 2003, том 45, выпуск 4, Стр. 742
Аннотация
Выполнены новые измерения и проведен подробный анализ экспериментальных данных по зависимости равновесной степени покрытия углерода theta на поверхности вольфрама от температуры и степени предварительной науглероженности. Показано, что в случае свободного от углерода объема изменение theta при T>=q 1400 K может быть приближенно описано условием равновесия потоков углерода через границу при энергии активации перехода в объем E1=4.6 eV и энергии сегрегации Delta E=1.7 eV. Для предварительно науглероженного вольфрама со степенью науглероживания ~ 10-2 at.% зависимость theta(T) не может быть описана условиями равновесия с постоянными значениями E1 и Delta E --- эти величины зависят от степени науглероживания. E1 растет от 4.6 до 6.8 eV, a Delta E --- от 1.7 до 2.3 eV при изменении степени науглероживания от 0 до 10-2 at.%. Эти изменения интерпретируются как упрочение связей в науглероженном вольфраме с увеличением количества внедренного углерода. Работа поддержана программой МН РФ \glqq Поверхностные атомные структуры\grqq (проект N 4.6.99).
Комментарии
Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален