Профиль » Публикация

Поделиться публикацией:
Опубликовать в блог:
Опубликовано 2006-00-00 ОрганизацияЧелябинский государственный педагогический университет, 454080 Челябинск, Россия * Preubisches Privatinstitut fur Technologie zur Berlin, 13187 Berlin, Germany ** Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 19402 ЖурналЖурнал "Физика Твердого Тела"


Исследование плазмонов в ионно-облученных однослойных углеродных нанотрубках спектроскопическими методами
Бржезинская М.М., Байтингер Е.М., Смирнов А.Б.
Бржезинская М.М., Байтингер Е.М., Смирнов А.Б. Исследование плазмонов в ионно-облученных однослойных углеродных нанотрубках спектроскопическими методами // ФТТ, 2006, том 48, выпуск 5, Стр. 935
Аннотация Работа посвящена экспериментальному изучению электронного строения однослойных углеродных нанотрубок методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, спектроскопии характеристических потерь энергии электронами на отражение и оже-электронной спектроскопии. Изучена сателлитная shake up структура, существующая вблизи остовных C 1s-линий в рентгеновских фотоэлектронных спектрах со стороны больших энергий связи в интервале 284-330 eV, которая обусловлена возбуждением pi- и pi+sigma-плазмонов. Исследовано влияние на форму спектров облучения ионами аргона с энергией 1 keV. Форма сателлитных C 1s-спектров оказалась чувствительной к облучению Ar+ в интервале энергий потерь 10-40 eV, соответствующем возбуждению pi+sigma-плазмонов. С помощью оже-спектроскопии обнаружено присутствие аргона на поверхности облученных ионами образцов. Его концентрация увеличивалась при возрастании дозы ионного облучения до ~4 at.%. Анализ результатов и сопоставление с литературными данными позволил сформулировать качественный вывод о деформации валентных углов у атомов углерода, образующих стенки однослойных нанотрубок, в месте облучения Ar+. Работа выполнена при поддержке Министерства образования Российской Федерации (грант N PD02-1.2-170). PACS: 71.45.Gm, 71.20.Tx
Ключевые слова публикации:
     

Комментарии

Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален