Профиль » Публикация
Опубликовано
1997-00-00
ОрганизацияМосковский государственный университет им. М.В.Ломоносова, 119899 Москва, Россия *Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия
ЖурналЖурнал "Физика и Техника Полупроводников"
О релаксационных характеристиках и стабильности пленок a-Si : H, выращенных при высоких температурах
Курова И.А., Ормонт Н.Н., Голикова О.А., Кудоярова В.Х. О релаксационных характеристиках и стабильности пленок a-Si : H, выращенных при высоких температурах // ФТП, 1997, том 31, выпуск 5, Стр. 536
Аннотация
Исследованы некоторые характеристики тепловой и световой стабильности в пленках a-Si : H, осажденных в триодном реакторе при температурах 300/ 390oC, с различной концентрацией водорода C H. Найдено, что температура установления равновесия TE увеличивается с уменьшением C H. При длительном освещении фотопроводимость уменьшается во времениt по закону t-1/3 в пленках с большим значением C H. В пленках с малым содержанием водорода фотопроводимость падает медленнее.
Комментарии
Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален