Профиль » Публикация

Поделиться публикацией:
Опубликовать в блог:
Опубликовано 1998-00-00 ОрганизацияRUCA-University of Antwerp B-2020 Antwerpen, Belgium ЖурналЖурнал "Физика и Техника Полупроводников"


Plasma-enhanced chemical vapour deposition and structural characterization of amorphous chalcogenide films
Nagels P.
Nagels P. Plasma-enhanced chemical vapour deposition and structural characterization of amorphous chalcogenide films // ФТП, 1998, том 32, выпуск 8, Стр. 958
Аннотация We describe the preparation of layers of amorphous Se, AsxS1-x, AsxSe1-x, GexS1-x and GexSe1-x by plasma-enhanced chemical vapour deposition using the hydrides of the elements as precursor gases. We discuss the influence of the gas ratios and the deposition conditions (pressure, rf power input) on the chemical composition and the homogeneity of the binary systems. Information concerning the structure of the films was obtained from infrared and Raman spectroscopy.

Комментарии

Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален