Профиль » Публикация

Поделиться публикацией:
Опубликовать в блог:
Опубликовано 2000-00-00 ОрганизацияГосударственное научно-производственное предприятие "НИИПП", 634045 Томск, Россия *Сибирский физико-технический институт, 634050 Томск, Россия ЖурналЖурнал "Физика и Техника Полупроводников"


Токоперенос в структурах Me--n-n+ с барьером Шоттки
Торхов Н.А., Еремеев С.В.
Торхов Н.А., Еремеев С.В. Токоперенос в структурах Me--n-n+ с барьером Шоттки // ФТП, 2000, том 34, выпуск 1, Стр. 106
Аннотация Предложена модель токопереноса в диодах с барьером Шоттки, использующая представление о баллистическом переносе электронов через тонкую базу. Для нахождения коэффициентов прохождения при расчете прямых и обратных вольт-амперных характеристик, а также времени прохождения применялся метод матрицы переноса. Показано, что учет полной формы потенциала приводит к хорошему согласию экспериментальных и расчетных вольт-амперных характеристик. Обнаружено, что учет влияния тонкой базы приводит к понижению тока. Получено, что коэффициент прохождения через n-базу диода может быть близок к 1. Показано наличие большого числа локальных резонансов для коэффициента прохождения и немонотонная зависимость времени прохождения от энергии, обусловленные влиянием области базы. Проведены оценки частотного предела работы диодов. Предел быстродействия оказался в 10--100раз выше оценки, проведенной с использованием классических представлений.

Комментарии

Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален