Профиль » Публикация
Опубликовано
2001-00-00
ОрганизацияИнститут физики прочности иматериаловедения Сибирского отделения Российской академии наук, 634021 Томск, Россия *Сибирский физико-технический институт, 634050 Томск, Россия
ЖурналЖурнал "Физика и Техника Полупроводников"
Влияние серы иселена нарельеф поверхности диэлектрических пленок иэлектрические характеристики структур металл--диэлектрик--p-GaAs
Панин А.В., Шугуров А.Р., Калыгина В.М. Влияние серы иселена нарельеф поверхности диэлектрических пленок иэлектрические характеристики структур металл--диэлектрик--p-GaAs // ФТП, 2001, том 35, выпуск 1, Стр. 78
Аннотация
Исследовано влияние атомов серы и селена на морфологию поверхности диэлектрических слоев, нанесенных на поверхность GaAs подложки. Показано, что введение халькогенов в приповерхностную область полупроводника приводит к выравниванию рельефа поверхности диэлектрических пленок. Одновременно наблюдается снижение плотности поверхностных состояний на границе раздела диэлектрик--p-GaAs. Результат действия атомов серы и селена зависит от материала диэлектрика.
Комментарии
Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален