Профиль » Публикация

Поделиться публикацией:
Опубликовать в блог:
Опубликовано 2001-00-00 ОрганизацияЧерновицкий национальный университет, 58012 Черновцы, Украина ЖурналЖурнал "Физика и Техника Полупроводников"


Генерационно-рекомбинационные идиффузионные токи вn+-p-переходах HgMnTe
Косяченко Л.А., Марков А.В., Остапов С.Э., Раренко И.М.
Косяченко Л.А., Марков А.В., Остапов С.Э., Раренко И.М. Генерационно-рекомбинационные идиффузионные токи вn+-p-переходах HgMnTe // ФТП, 2001, том 35, выпуск 11, Стр. 1326
Аннотация Исходя из уравнения Пуассона рассмотрены особенности распределения объемного заряда, напряженности электрического поля и потенциала в p-n-переходе в узкозонном полупроводнике типа HgMnTe. Показано, что при сужении запрещенной зоны влияние свободных носителей приводит к тому, что зависимость напряженности электрического поля от координаты отклоняется от линейной, а потенциала--- от квадратичной. Вследствие этого, а также из-за значительного увеличения диффузионного потенциала в n+-p-переходе с вырожденной n+-областью, становятся своеобразными механизмы переноса заряда: зависимость рекомбинационного тока от напряжения отклоняется от обычно используемых аналитических выражений, а при больших напряжениях смещения доминирует диффузионный ток дырок из слабо легированной p-области в n+-область.

Комментарии

Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален