Профиль » Публикация
Опубликовано
2005-00-00
ОрганизацияИнститут физики полупроводников им. В.Е. Лашкарева Национальной академии наук Украины, 03028 Киев, Украина * Ужгородский национальный университет, 88000 Ужгород, Украина
ЖурналЖурнал "Физика и Техника Полупроводников"
Структурные преобразования иоптические свойства халькогенидных стекол As2S3
Фекешгази И.В., Май К.В., Мателешко Н.И., Мица В.М., Боркач Е.И. Структурные преобразования иоптические свойства халькогенидных стекол As2S3 // ФТП, 2005, том 39, выпуск 8, Стр. 986
Аннотация
Исследовано влияние температуры выдержки расплава (Ti) и скорости закалки (Vi) на структуру и оптические свойства стекол As2S3. Установлено, что с ростом значенийTi и Vi наблюдается увеличение ширины запрещенной зоны стекол, уменьшение их плотности, показателя преломления (от 2.71 до2.48), а также коэффициента двухфотонного поглощения (от 0.37 до 0.15 см / МВт), что сопровождается возрастанием значений порога лучевой прочности.
Комментарии
Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален