Профиль » Публикация
Опубликовано
1998-00-00
ОрганизацияМИФИ
ЖурналНаучная сессия МИФИ-1998. Ч.5 Информатика, вычислительная техника. Автоматизация. Электронные измерительные системы. Информационные технологии и электроника. Электроника. Микроэлектроника
Оценка уровня сбоев в ИС в зависимости от длительности импульса ионизирующего излучения
Чумаков А.и. Оценка уровня сбоев в ИС в зависимости от длительности импульса ионизирующего излучения // Научная сессия МИФИ-1998. Ч.5 Информатика, вычислительная техника. Автоматизация. Электронные измерительные системы. Информационные технологии и электроника. Электроника. Микроэлектроника, стр. 212-214
Аннотация
Комментарии
Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален