Профиль » Публикация

Поделиться публикацией:
Опубликовать в блог:
Опубликовано 1998-00-00 ОрганизацияМИФИ ЖурналНаучная сессия МИФИ-1998. Ч.5 Информатика, вычислительная техника. Автоматизация. Электронные измерительные системы. Информационные технологии и электроника. Электроника. Микроэлектроника


Оценка уровня сбоев в ИС в зависимости от длительности импульса ионизирующего излучения
Чумаков А.и.
Чумаков А.и. Оценка уровня сбоев в ИС в зависимости от длительности импульса ионизирующего излучения // Научная сессия МИФИ-1998. Ч.5 Информатика, вычислительная техника. Автоматизация. Электронные измерительные системы. Информационные технологии и электроника. Электроника. Микроэлектроника, стр. 212-214
Аннотация

Комментарии

Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален