Профиль » Публикация

Поделиться публикацией:
Опубликовать в блог:
Опубликовано 2000-00-00 ОрганизацияМИФИ ЖурналНаучная сессия МИФИ-2000. Т.1 Автоматика. Электроника. Микроэлектроника. Электронные измерительные системы


Характер отказов ПЛИС А1020В при радиационных испытаниях
Власов С.ф.
Власов С.ф. Характер отказов ПЛИС А1020В при радиационных испытаниях // Научная сессия МИФИ-2000. Т.1 Автоматика. Электроника. Микроэлектроника. Электронные измерительные системы, стр. 157-158
Аннотация
 http://library.mephi.ru/data/scientific-sessions/2000/1/1079.html
Показать статистику
Похожие публикации

Комментарии

Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален