Профиль » Публикация
Опубликовано
2000-00-00
ОрганизацияМИФИ
ЖурналНаучная сессия МИФИ-2000. Т.4 Лазерная физика. Физика плазмы. Сверхпроводимость и физика наноструктур. Физика твердого тела. Оптическая обработка информации
Учет многозарядных ионов при количественном анализе вещества на ЭМАЛ-2
Быковский Ю.а., Гладков В.п., Кузнецов Г.б., Широков В.в. Учет многозарядных ионов при количественном анализе вещества на ЭМАЛ-2 // Научная сессия МИФИ-2000. Т.4 Лазерная физика. Физика плазмы. Сверхпроводимость и физика наноструктур. Физика твердого тела. Оптическая обработка информации, стр. 163-164
Аннотация
Комментарии
Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален