Профиль » Публикация

Поделиться публикацией:
Опубликовать в блог:
Опубликовано 2000-00-00 ОрганизацияМИФИ ЖурналНаучная сессия МИФИ-2000. Т.4 Лазерная физика. Физика плазмы. Сверхпроводимость и физика наноструктур. Физика твердого тела. Оптическая обработка информации


Учет многозарядных ионов при количественном анализе вещества на ЭМАЛ-2
Быковский Ю.а., Гладков В.п., Кузнецов Г.б., Широков В.в.
Быковский Ю.а., Гладков В.п., Кузнецов Г.б., Широков В.в. Учет многозарядных ионов при количественном анализе вещества на ЭМАЛ-2 // Научная сессия МИФИ-2000. Т.4 Лазерная физика. Физика плазмы. Сверхпроводимость и физика наноструктур. Физика твердого тела. Оптическая обработка информации, стр. 163-164
Аннотация

Комментарии

Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален