Профиль » Публикация

Поделиться публикацией:
Опубликовать в блог:
Опубликовано 2001-00-00 ОрганизацияМИФИ ЖурналНаучная сессия МИФИ-2001. Т.1 Автоматика. Электроника. Микроэлектроника. Электронные измерительные системы


Оценка погрешности определения вероятности радиационного отказа интегральных микросхем
Котина М.в., Попов В.д.
Котина М.в., Попов В.д. Оценка погрешности определения вероятности радиационного отказа интегральных микросхем // Научная сессия МИФИ-2001. Т.1 Автоматика. Электроника. Микроэлектроника. Электронные измерительные системы, стр. 131-132
Аннотация
 http://library.mephi.ru/data/scientific-sessions/2001/1/1166.html
Показать статистику
Похожие публикации

Комментарии

Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален