Профиль » Публикация
Опубликовано
2006-00-00
ОрганизацияМИФИ
ЖурналНаучная сессия МИФИ-2006. Т.1 Автоматика. Микроэлектроника. Электроника. Электронные измерительные системы. Компьютерные медицинские системы
Испытание на радиационную стойкость серийных образцов микроконтроллера ATtiny12-8
Шагурин И.и., Лебедев А.в., Кириллов М.а. Испытание на радиационную стойкость серийных образцов микроконтроллера ATtiny12-8 // Научная сессия МИФИ-2006. Т.1 Автоматика. Микроэлектроника. Электроника. Электронные измерительные системы. Компьютерные медицинские системы, стр. 128-129
Аннотация
Описана методика испытаний радиационной стойкости микроконтроллеров с помощью тестового модуля. Методика и тестовый модуль использованы для испытаний серийных образцов микроконтроллеров ATtiny12-8 компании ATMEL, проведенных по заказу ЭНПО СПЭЛС.
http://library.mephi.ru/data/scientific-sessions/2006/t1/2-1-12.doc
Показать статистику Комментарии
Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален
