Игорь Коровченко » Публикация

Поделиться публикацией:
Опубликовать в блог:
Опубликовано 2006-12-00 Опубликовано на SciPeople2008-09-23 16:08:11 ЖурналВестник Воронежского государственного университета. Серия.Физика.Математика.


Определение параметров структурных моделей транзистора по экспериментальным данным (Determination of transistor structure models parameters from experimental data)
А. М. Бобрешов, Л. И. Аверина, Г. К. Усков, И. С. Коровченко (A. M. Bobreshov, L. I. Averina, G. K. Uskov, I. S. Korovchenko) / Игорь Коровченко
Аннотация Предложена методика определения параметров моделей твердотельных устройств по экспериментальным данным, в качестве которых могут выступать различные характеристики, например вольтамперные, передаточные характеристики, линейные параметры, снятые для различных режимов работы, характеристики блокирования, интермодуляции и др. Достоинством представленной методики является: универсальность по отношению к эквивалентной схеме модели; возможность использовать различные экспериментальные данные для определения параметров; простота реализации методики в системах схемотехнического проектирования. The method of determination of solid-state models parameters from experimental data was suggested. Experimental data can be different characteristics, such as VAC, linear parameters for DC-modes, blocking and intermodulation characteristic etc. Advantages of this method are: independent of method from models equivalent schemes, opportunity of using different experimental data for parameters determination, simple realization in CADs.

Комментарии

Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален