Александр Мозжерин » Публикация

Поделиться публикацией:
Опубликовать в блог:
Опубликовано 2009-04-10 Опубликовано на SciPeople2010-02-06 06:14:04 ЖурналМатериалы XLVII Международной научной студенческой конференции "Студент и научно-технический прогресс"


Особенности дефектообразования в полупроводниковых кристаллах кремния и германия
А.В. Мозжерин / Александр Мозжерин
Мозжерин А.В., Электронно-микроскопический анализ структурных дефектов в кремнии и германии // Тезисы докладов научной конференции студентов, аспирантов и молодых ученых физиков НКСВ – XXXVIII: Сибирский федеральный университет, Институт инженерной физики и радиоэлектроники, 2009.
Аннотация С помощью методов просвечивающей электронной микроскопии присходит анализ качества монокристаллов кремния и германия

Комментарии

Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален