Профиль » Публикация
Опубликовано на SciPeople2010-05-24 15:24:55
Методика исследования метрических характеристик сканов
Комиссаров А.В. Методика исследования метрических характеристик сканов: автореф. дис. ... канд. техн. наук : 25.00.34. - M, 2007.
Аннотация
Комментарии
Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален