Профиль » Публикация
Опубликовано на SciPeople2010-05-24 15:55:43
Исследование фазовых состояний тонких пленок жидких кристаллов методоми атомно-силовой микроскопии
Гирфанова Ф.М. Исследование фазовых состояний тонких пленок жидких кристаллов методоми атомно-силовой микроскопии : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.14. - M, 2008.
Аннотация
Комментарии
Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален