Профиль » Публикация
Опубликовано
2005-11-02
ОрганизацияНовгородский государственный университет имени Ярослава Мудрого
ЖурналЭлектронный журнал "Исследовано в России"
Цифровая обработка топографических изображений дефектов структуры монокристаллов на основе вейвлет-анализа
Ткаль В.А., Окунев А.О, Белехов Я.С., Петров М.Н., Данильчук Л.Н. Цифровая обработка топографических изображений дефектов структуры монокристаллов на основе вейвлет-анализа
// Электронный журнал "Исследовано в России", 8, 2181-2190, 2005. http://zhurnal.ape.relarn.ru/articles/2005/211.pdf
Аннотация
На примере топографических изображений краевых дислокаций, зарегистрированных в монокристалле 6H-SiC методом РТБ (топография на основе эффекта Бормана) показана возможность эффективного устранения с помощью вейвлет-анализа зернистости фотоэмульсии. Для цифровой обработки экспериментального контраста использовался пакет математического проектирования MATLAB 6.5, включающий в себя различные вейвлет-базисы. Вейвлет-обработка позволила зарегистрировать ранее трудно выявляемые особенности экспериментального контраста, надёжно идентифицировать дефект, повысить информативность метода РТБ и упростить получение количественной информации.
http://zhurnal.ape.relarn.ru/articles/2005/211.pdf
Показать статистику Комментарии
Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален
