Профиль » Публикация

Аннотация Рассчитаны поверхности постоянной силы при сканировании острия АСМ в режиме сил отталкивания над решеткой плотной упаковки атомов. Показано, что при достаточно малых начальных высотах сканирования острия с одним атомом на кончике имеют место разрывы поверхностей постоянной силы в областях между атомами поверхностной решетки. Построена кластерная модель кончика острия, обеспечивающая непрерывность сканирования при произвольных начальных высотах. Исследована зависимость АСМ изображений решетки плотной упаковки атомов, как невозмущенной, так и содержащей точечные дефекты, от ориентации кластера на кончике острия относительно кристаллографических осей поверхности. Обсуждены диагностические возможности полученных результатов.