Профиль » Публикация

Поделиться публикацией:

Опубликовано 1999-00-00 Организация1 Исследовательско-внедренческое предприятие "Модус", 125047 Москва, Россия Северо-западный заочный политехнический институт, 191186 Санкт-Петербург, Россия ЖурналЖурнал Технической Физики

Описание силовых поверхностей в&nbsp;атомно-силовой микроскопии с&nbsp;учетом подвижности атомов решетки

Благов Е.В., Климчицкая Г.Л., Мостепаненко В.М.

Благов Е.В., Климчицкая Г.Л., Мостепаненко В.М. Описание силовых поверхностей в атомно-силовой микроскопии с учетом подвижности атомов решетки // ЖТФ, 1999, том 69, выпуск 8, Стр. 111

Аннотация Рассчитаны поверхности постоянной силы и профили горизонтальной составляющей силы при сканировании острия атомно-силового микроскопа над поверхностью решетки плотной упаковки в контактной моде с учетом подвижности атомов решетки. Показано, что при учете подвижности обнаруженные ранее разрывы на поверхности постоянной силы возникают при меньших силах сканирования острия над поверхностью, чем в приближении неподвижных атомов. Получены силовые поверхности, возникающие при сканировании над вакансией. Обсуждается возможность использования данных атомно-силовой микроскопии для диагностики точечных дефектов на поврехности твердого тела.