Профиль » Публикация

Поделиться публикацией:

Опубликовано 2002-00-00 Организация1&nbsp;Воронежский государственный университет, 394693 Воронеж, Россия 2&nbsp;Воронежская государственная архитектурно-строительная академия, 394006 Воронеж, Россия e-mail: phssd2@main.vsu.ru (Kusmenko) ЖурналЖурнал Технической Физики

Комбинированные фотоотражательные/фотолюминесцентные измерения для исследования стабильности пассивации поверхности полупроводника

Кузьменко Р.В., Ганжа А.В., Домашевская Э.П., Рясной П.В.

Кузьменко Р.В., Ганжа А.В., Домашевская Э.П., Рясной П.В. Комбинированные фотоотражательные/фотолюминесцентные измерения для исследования стабильности пассивации поверхности полупроводника // ЖТФ, 2002, том 72, выпуск 2, Стр. 84

Аннотация Для исследования стабильности пассивации поверхности полупроводника впервые предлагается методика комбинированных фотоотражательных/фотолюминесцентных измерений, позволяющая изучить воздействие лазерного излучения и на заряженные, и на рекомбинационно-активные электронные состояния. Эффективность методики демонстрируется на примере пассивированных селеном подложек GaAs.