Профиль » Публикация
Опубликовано
2003-00-00
Организация1 Институт по исследованию тяжелых ионов (ГСИ), Дармштадт, ФРГ 2 Физический институт им. П.Н. Лебедева РАН, 119991 Москва, Россия e-mail: shev@sci.lebedev.ru
ЖурналЖурнал Технической Физики
Влияние плотности мишени на сечения перезарядки быстрых ионов на атомах
Розмей О., Толстихина И.Ю., Шевелько В.П. Влияние плотности мишени на сечения перезарядки быстрых ионов на атомах // ЖТФ, 2003, том 73, выпуск 9, Стр. 31
Аннотация
Показано, что при столкновении быстрых ионов Xq+ с атомными и молекулярными мишенями полные сечения перезарядки убывают с ростом плотности мишени, что связано с \glqq обеднением\grqq возбужденных уровней образующихся ионов X(q-1)+ за счет ионизации атомами мишени. Влияние эффектов плотности на полные сечения перезарядки может достигать порядка и более в зависимости от заряда и энергии налетающего иона, плотности атомов мишени и структуры их внутренних оболочек. Численные расчеты выполнены для парциальных по главному квантовому числу n сечений sigma(n) и полных сечений перезарядки sigmatot=Sigmansigma(n) при столкновении быстрых многозарядных ионов с энергией E=100 keV/u-10 MeV/u с газообразными и твердыми мишенями.
Комментарии
Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален