Профиль » Публикация

Поделиться публикацией:
Опубликовать в блог:
Опубликовано 2003-00-00 Организация1 Институт по исследованию тяжелых ионов (ГСИ), Дармштадт, ФРГ 2 Физический институт им. П.Н. Лебедева РАН, 119991 Москва, Россия e-mail: shev@sci.lebedev.ru ЖурналЖурнал Технической Физики


Влияние плотности мишени на сечения перезарядки быстрых ионов на атомах
Розмей О., Толстихина И.Ю., Шевелько В.П.
Розмей О., Толстихина И.Ю., Шевелько В.П. Влияние плотности мишени на сечения перезарядки быстрых ионов на атомах // ЖТФ, 2003, том 73, выпуск 9, Стр. 31
Аннотация Показано, что при столкновении быстрых ионов Xq+ с атомными и молекулярными мишенями полные сечения перезарядки убывают с ростом плотности мишени, что связано с \glqq обеднением\grqq возбужденных уровней образующихся ионов X(q-1)+ за счет ионизации атомами мишени. Влияние эффектов плотности на полные сечения перезарядки может достигать порядка и более в зависимости от заряда и энергии налетающего иона, плотности атомов мишени и структуры их внутренних оболочек. Численные расчеты выполнены для парциальных по главному квантовому числу n сечений sigma(n) и полных сечений перезарядки sigmatot=Sigmansigma(n) при столкновении быстрых многозарядных ионов с энергией E=100 keV/u-10 MeV/u с газообразными и твердыми мишенями.
Ключевые слова публикации:
       

Комментарии

Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален