Профиль » Публикация

Поделиться публикацией:
Опубликовать в блог:
Опубликовано 1999-00-00 ОрганизацияФизико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия * Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет, 197022 Санкт-Петербург, Россия E-mail: yurk@shuv.ioffe.rssi.ru ЖурналЖурнал "Физика Твердого Тела"


Статистическое распределение магнитных критических токов, определяемое морфологией пленок высокотемпературных сверхпроводников
Кузьмин Ю.И., Плешаков И.В., Разумов С.В.
Кузьмин Ю.И., Плешаков И.В., Разумов С.В. Статистическое распределение магнитных критических токов, определяемое морфологией пленок высокотемпературных сверхпроводников // ФТТ, 1999, том 41, выпуск 10, Стр. 1739
Аннотация В работе анализируются геометрико-морфологические свойства сверхпроводящих пленок YBCO и их влияние на магнитные и транспортные явления. Исследуются статистические характеристики критических токов, измеренных по изменению захваченного магнитного потока при пропускании импульсного транспортного тока. Показано, что критические токи в изучаемых материалах обладают определенным статистическим распределением, основные свойства которого обусловлены морфологией пленок и могут быть определены на основе геометрико-вероятностного анализа. Сверхпроводящая пленка рассматривается как перколяционная система. По эмпирической функции распределения площадей кластеров нормальной фазы получена функция распределения магнитных критических токов, описывающая результаты экспериментов по воздействию транспортного тока на захваченный магнитный поток. Рассчитан критический ток перехода пленки в резистивное состояние.
Ключевые слова публикации:
     

Комментарии

Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален