Профиль » Публикация
Опубликовано
2000-00-00
ОрганизацияФизико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия
ЖурналЖурнал "Физика Твердого Тела"
Фокусировка электронов при отражении от слоистого кристалла
Гомоюнова М.В., Пронин И.И., Валдайцев Д.А., Фараджев Н.С. Фокусировка электронов при отражении от слоистого кристалла // ФТТ, 2000, том 42, выпуск 3, Стр. 542
Аннотация
Исследован механизм формирования дифракционных картин электронов средней энергии при неупругом отражении от слоистого кристалла VSe2(0001). Обнаружено, что из-за большого вклада процессов рассеяния электронов на коротких атомных цепочках триад слоев Se--V--Se происходит ослабление эффекта фокусировки и усиление влияния дифракционного рассеяния в более глубоких слоях, которое приводит к появлению Кикучи-полос. Показано, что при энергии 2 keV дифракционная картина достаточно хорошо описывается кластерной моделью однократного рассеяния. Изучено атомное строение тонкого приповерхностного слоя VSe2 путем компьютерного моделирования результатов измерний. Работа выполнена в рамках направления "Поверхностные атомные структуры" (проект N 5.10.99) при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (проект N 99-02-1867).
Комментарии
Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален