Профиль » Публикация

Аннотация Приведены результаты измерения с помощью атомно-силового микроскопа (АСМ) твердости (H) и модуля Юнга (E) в поверхностных слоях монокристаллического KCl на глубинах до 300 nm от поверхности в диапазоне нагрузок от 5 до 100 muN. Величины H и E оценивались \glqq косвенным\grqq способом по анализу кривых P(h) (нагрузка на индентор --- глубина внедрения индентора). Кроме того, величина H оценивалась \glqq прямым\grqq способом --- путем измерения площади отпечатка, визуализуемого АСМ с нанометрическим разрешением. Выявлено влияние структурных особенностей поверхности вокруг отпечатка индентора на точность оценок H и E. Обнаружена резкая зависимость H от величины нагрузки на индентор --- \glqq масштабный\grqq (наноразмерный) эффект. Качественно экспериментальные результаты хорошо согласуются с выводами модели \glqq геометрически необходимых дислокаций\grqq Никса и Гао, но для количественных оценок массопереноса материала из под наноиндентора необходимо структурное рассмотрение с учетом особенностей пластической деформации кристаллов.