Профиль » Публикация

Поделиться публикацией:
Опубликовать в блог:
Опубликовано 1997-00-00 ОрганизацияФизико-технический институт им. А.Ф.Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия ЖурналЖурнал "Физика и Техника Полупроводников"


Фотоэлектрический эффект в поверхностно-барьерных структурах наоснове GaAs: температурная зависимость коротковолновой квантовой эффективности
Гольдберг Ю.А., Константинов О.В., Оболенский О.И., Поссе  Е.А., Царенков Б.В.
Гольдберг Ю.А., Константинов О.В., Оболенский О.И., Поссе  Е.А., Царенков Б.В. Фотоэлектрический эффект в поверхностно-барьерных структурах наоснове GaAs: температурная зависимость коротковолновой квантовой эффективности // ФТП, 1997, том 31, выпуск 5, Стр. 563
Аннотация Изучались температурные зависимости коротковолновой квантовой эффективности фотоэлектропреобразования поверхностно-барьерных структур на основе GaAs в интервале температур 78/ 300 K и энергий фотонов 1.8/ 4.7 эВ. Показано экспериментально, что квантовая эффективность gamma возрастает с ростом температуры T; при высоких температурах зависимость gamma от T стремится к насыщению. Для объяснения температурного роста квантовой эффективности фотоэлектропреобразования в поверхностно-барьерных структурах на основе GaAs предложена модель, основанная на представлении о флуктуационных ловушках в слое объемного заряда структуры. Эта модель при достаточно хорошем согласии с экспериментом позволяет разделить зависимости квантовой эффективности от температуры и от энергии фотонов, т. е. выделить в явном виде температурную зависимость квантовой эффективности.
Ключевые слова публикации:
     

Комментарии

Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален