Профиль » Публикация

Поделиться публикацией:
Опубликовать в блог:
Опубликовано 1998-00-00 ОрганизацияИнститут физики полупроводников Национальной академии наук Украины, 252028 Киев, Украина ЖурналЖурнал "Физика и Техника Полупроводников"


Эксклюзия и аккумуляция носителей заряда, усиленные омическим контактом
Малютенко В.К., Тесленко Г.И., Вайнберг В.В.
Малютенко В.К., Тесленко Г.И., Вайнберг В.В. Эксклюзия и аккумуляция носителей заряда, усиленные омическим контактом // ФТП, 1998, том 32, выпуск 5, Стр. 634
Аннотация Теоретически и экспериментально исследовано влияние высокой генерационно-рекомбинационной способности омического контакта (S-контакт) на процессы эксклюзии--аккумуляции в структурах с антизапорным контактом (асимметричных структурах типа p+-p-S). Показано, что в отличие от традиционно исследуемой симметричной структуры p+-p-p+ в рассматриваемой структуре в зависимости от направления тока формируется либо область аккумуляции, либо область эксклюзии. Концентрация неравновесных носителей в слое аккумуляции оказывается значительно выше, а эксклюзионная область длиннее, чем в симметричной структуре. Для Ge при 300 K экспериментально получено 100-кратное превышение концентрации n по отношению к равновесному значению n0. Протяженность эксклюзионной области достигала 96% длины образца. Предложены области применения структур с антизапорным и омическим контактами на базе узкозонных материалов.

Комментарии

Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален