Профиль » Публикация
Опубликовано
2000-00-00
ОрганизацияИнститут физики полупроводников Сибирского отделения Российской академии наук, 630090 Новосибирск, Россия *Институт сенсорной микроэлектроники Сибирского отделения Российской академии наук, 644077 Омск, Россия
ЖурналЖурнал "Физика и Техника Полупроводников"
Исследование методом комбинационного рассеяния света расщепления поперечных оптических фононов всверхрешетках GaAs / AlAs, выращенных на поверхностях (311)
Володин В.А., Ефремов М.Д., Преображенский В.В., Семягин Б.Р., Болотов В.В., Сачков В.А. Исследование методом комбинационного рассеяния света расщепления поперечных оптических фононов всверхрешетках GaAs / AlAs, выращенных на поверхностях (311) // ФТП, 2000, том 34, выпуск 1, Стр. 62
Аннотация
Сверхрешетки GaAsn / AlAsm, выращенные молекулярно-лучевой эпитаксией на поверхностях GaAs (311)A и (311)B, были исследованы методом спектроскопии комбинационного рассеяния света. Вид тензора комбинационного рассеяния света позволял, используя различные геометрии рассеяния, раздельно наблюдать моды TOy и TOx, где оси y и x--- направления смещения атомов, направленные вдоль и поперек фасеток на поверхности (311)A. Обнаружено расщепление мод TO1x и TO1y в сверхрешетках, выращенных на фасетированной поверхности (311)A GaAs. Наблюдалось усиление расщепления для свеpxрешеток со средней толщиной слоев GaAs 6монослоев и менее. Так как для сверxpешеток, выращенных в тех же условиях на поверхности (311)B, расщепления не наблюдалось, эффект расщепления можно связать с формированием квантовых проволок GaAs на фасетированной поверхности (311)A.
Комментарии
Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален