Профиль » Публикация
Опубликовано
2001-00-00
ОрганизацияИнститут радиотехники и электроники Российской академии наук, 103907 Москва, Россия
ЖурналЖурнал "Физика и Техника Полупроводников"
Использование амфотерности примесных атомов кремния для получения планарных p-n-переходов на подложках GaAs с ориентацией (111)A методом молекулярно-лучевой эпитаксии
Галиев Г.Б., Каминский В.Э., Мокеров В.Г., Велиховский Л.Э. Использование амфотерности примесных атомов кремния для получения планарных p-n-переходов на подложках GaAs с ориентацией (111)A методом молекулярно-лучевой эпитаксии // ФТП, 2001, том 35, выпуск 4, Стр. 427
Аннотация
Выращены эпитаксиальные слои n- и p-типа проводимости. Показано, что морфология слоев p-типа проводимости значительно хуже морфологии слоев n-типа. Однако в обоих случаях спектры фотолюминесценции и подвижность носителей тока не сильно отличаются от аналогичных характеристик для монокристаллических образцов. Также получены планарные p-n-переходы и изготовлены диоды. В зависимости от структуры слоев вольт-амперные характеристики приборов имеют вид обычного или обращенного диода.
Комментарии
Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален