Профиль » Публикация

Поделиться публикацией:
Опубликовать в блог:
Опубликовано 2000-00-00 ОрганизацияМИФИ ЖурналНаучная сессия МИФИ-2000. Т.1 Автоматика. Электроника. Микроэлектроника. Электронные измерительные системы


Статистический подход к контролю качества ультразвукового сканирования швов
Власов В.а., Добровольский В.л.
Власов В.а., Добровольский В.л. Статистический подход к контролю качества ультразвукового сканирования швов // Научная сессия МИФИ-2000. Т.1 Автоматика. Электроника. Микроэлектроника. Электронные измерительные системы, стр. 25-26
Аннотация
 http://library.mephi.ru/data/scientific-sessions/2000/1/1014.html
Показать статистику
Похожие публикации

Комментарии

Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален