Алексей Борисевич » Публикация

Поделиться публикацией:
Опубликовать в блог:
Опубликовано 2007-11-14 Опубликовано на SciPeople2009-07-02 11:58:06 ЖурналProceedings of the Sixth International Conference on the Computer-aided design of discrete devices (CAD DD'2007)


Hybrid symbolic-genetic approach to test pattern generation for digital logic circuits
A.V. Borisevich and V.G. Novoselov / Алексей Борисевич
Аннотация A genetic tests synthesis algorithm for the synchronous digital circuits, based on solving the integer optimization problem with a scalar objective function is presented. A decomposition strategy of the circuit under test and symbolic representation of its fragments obtained. New objective function with a global optimum which is the test sequence developed. Experimental results confirmed the effectiveness and practical applicability of the method.
Ключевые слова публикации:
     

Комментарии

Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален