Профиль » Публикация

Поделиться публикацией:

Опубликовано 1999-00-00 ОрганизацияТбилисский государственный университет, 380028 Тбилиси, Грузия ЖурналЖурнал "Физика Твердого Тела"

О распределении величины микротвердости по глубине образца

Герасимов А.Б., Чирадзе Г.Д., Кутивадзе Н.Г., Бибилашвили А.П., Бохочадзе З.Г.

Герасимов А.Б., Чирадзе Г.Д., Кутивадзе Н.Г., Бибилашвили А.П., Бохочадзе З.Г. О распределении величины микротвердости по глубине образца // ФТТ, 1999, том 41, выпуск 7, Стр. 1225

Аннотация С целью уточнения механизма микроиндентирования, на основе анализа экспериментальных данных по влиянию спектрального состава и интенсивности света на микротвердость монокристаллического Si и проведенных теоретических расчетов установлено существование около поверхности Si тонкого слоя высокой твердости, который оказывает разное влияние на величину микротвердости в зависимости от глубины внедрения индентора в вещество.