Профиль » Публикация

Поделиться публикацией:

Опубликовано 2005-00-00 ОрганизацияИнститут проблем сверхпластичности металлов Российской академии наук, 450001 Уфа, Россия * Институт физики твердого тела Российской академии наук, 142432 Черноголовка, Московская обл., Россия ЖурналЖурнал "Физика Твердого Тела"

Анализ пространственного распределения ориентировок элементов структуры поликристаллов, получаемого методами просвечивающей электронной микроскопии иобратно рассеянного пучка электронов всканирующем электронном микроскопе

Миронов С.Ю., Даниленко В.Н., Мышляев М.М., Корнева А.В.

Миронов С.Ю., Даниленко В.Н., Мышляев М.М., Корнева А.В. Анализ пространственного распределения ориентировок элементов структуры поликристаллов, получаемого методами просвечивающей электронной микроскопии иобратно рассеянного пучка электронов всканирующем электронном микроскопе // ФТТ, 2005, том 47, выпуск 7, Стр. 1217

Аннотация Проведен анализ достоинств и недостатков метода автоматического анализа картин дифракции обратно рассеянных электронов (EBSD) по сравнению с просвечивающей электронной микроскопией (ПЭМ) при изучении пространственного распределения ориентировок. Осуществлено сравнительное экспериментальное исследование спектра разориентировок с помощью ПЭМ- и EBSD-анализа модельного материала (сплав нихром H20X80) с повышенным содержанием двойников отжига. Работа выполнена при поддержке РФФИ (проекты 04-02-16129, 04-02-97261, 04-02-17627).