Профиль » Публикация
Опубликовано
1998-00-00
ОрганизацияФизико-технический институт Министерства науки--- Академии наук Республики Казахстан, 480082 Алматы, Казахстан
ЖурналЖурнал "Физика и Техника Полупроводников"
Обнаружение низкотемпературной диффузии примесных атомов алюминия вимплантированном водородном кремнии
Горелкинский Ю.В., Мукашев Б.Н., Абдуллин Х.А. Обнаружение низкотемпературной диффузии примесных атомов алюминия вимплантированном водородном кремнии // ФТП, 1998, том 32, выпуск 4, Стр. 421
Аннотация
Методом ЭПР изучены образцы монокристаллического кремния, легированного примесью алюминия и импланированного атомами водорода при температуре ~80 K. Обнаружены два новых ЭПР спектра, обозначенные как Si-AA15 и Si-AA16. Сверхтонкая структура спектров однозначно показывает, что в состав дефектов AA15 и АА16 вовлечены два и один атом алюминия соответственно. Формирование пар Al--Al (дефект AA15) свидетельствует о сильной миграции примесных атомов алюминия. Миграция, происходящая в эксперименте при T=<200 K, не может быть нормальной или инжекционно-ускоренной диффузией. Обсуждаются возможные модели примесных межузельных пар Al--Al и механизм водородно-ускоренной миграции.
Комментарии
Вам необходимо зайти или зарегистрироваться для комментирования
Этот комментарий был удален
Этот комментарий был удален